元素分析检测设备—JEM-1400Flash介绍：从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料，JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域，而且用途越来越广。其中，以生物领域为首的高分子材料研究、医疗品、病理切片、病毒、由荧光显微镜做过标记的样品等的观察，首先用低倍率确认细胞组织或材料结构、样品位置、观察区域的整体情况，再用高倍率详细观察感兴趣的微细结构。近年来，对于这一系列的观察程序的简单化和获取高通量数据快速化的需求越来越迫切。为了满足这些需求，新款120kV透射电子显微镜JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超大视野的蒙太奇系统以及与光学显微镜图像的联动功能。四川沃顿科技有限公司四川氧氮氢分析仪批发***四川沃顿科技有限公司。成都等离子体发射光谱仪厂商

元素分析检测设备—EDX-LEPIus特点：一、追求省时省力，高速筛选分折：降低运行成本、减少日常维护量；配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能；配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义。二、深入浅出：利用［筛选分析］画面、操作简单方便；从主成分判定到条件选择全部实现自动处理。三、配备所有***功能：标准配备了RoHS/ELV分析所需的各种功能；很大的样品室，可直接测试大型样品。元素分析检测设备—EDX-LEPIus特点：一、追求省时省力，高速筛选分折：降低运行成本、减少日常维护量；配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能；配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义。二、深入浅出：利用［筛选分析］画面、操作简单方便；从主成分判定到条件选择全部实现自动处理。三、配备所有***功能：标准配备了RoHS/ELV分析所需的各种功能；很大的样品室，可直接测试大型样品原子吸收分光光度计购买联系电话成都透射电镜批发***四川沃顿科技有限公司。

电感耦合等离子体质谱仪-ICPMS-2030特点：1、高稳定性、优异的灵敏度和低干扰。全新研发的碰撞池技术很大程度上降低了干扰，从而实现了高灵敏度，进样系统和离子传输界面维护简单，***稳定性。另外，系统支持LC-ICPMS等联用技术。2、LabSolutionDB/CSICPMS满足FDA21part11，支持实验室网络化管理。LabSolutionDB/CSICPMS满足FDA21CFRPart11、ERES等法规要求，具有电子记录和电子签名功能。该软件支持实验室网络化管理，各种实验仪器如HPLC,LCMS,GC,GCMS,UV,FTIR,RF,EDX,TOC,和PPSQ的分析结果都可以使用一个服务器集中处理。

液相色谱仪—NexeraLC-40介绍：(1)UV-VIS紫外可见光检测器SPD-40/SPD40V二极管阵列检测器SPD-M40三重控温技术提高设备稳定性分析数据与消耗品信息相关联，以确保可追溯性.(2)流动相输送单元LC-40系列在分析过程中具备自动诊断以及自动恢复功能.更加节约空间的二元输液泵一体化设计。(3)自动进样器SIL-40系列/TECHANGER进样速度较之前产品提升一倍，缩短多样品分析进程时间。可对多达44组微孔板进行连续分析。微量进样时***高重复性和交叉污染。自动样品前处理功能，如样品稀释、内标添加、衍生化反应等，从而减少劳动强度。四川沃顿科技有限公司四川液相色谱仪批发***四川沃顿科技有限公司。

元素分析检测设备—JEM-F200特点：1、皮米样品台驱动：JEM-F200采用能以皮米级步长移动样品台的Picostagedrive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。2、SpecPorter（自动插入和拔出样品杆的装置）：插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作。JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在***的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出。3、改进的冷场发射电子枪：JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察。四川CT检测批发***四川沃顿科技有限公司。原子吸收分光光度计购买联系电话

成都电子探针批发***四川沃顿科技有限公司。成都等离子体发射光谱仪厂商

元素分析检测设备—JEM-JEM-F200特点：1、外观设计精炼：精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。2、四级聚光镜系统：现在的电子显微镜需要支持范围的成像技术---从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lenscondensersystem”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。3、扫描系统：JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“AdvancedScanSystem”即成像系统的电子束扫描功能（选配）。成都等离子体发射光谱仪厂商

产品推荐